Hallo,
ich hätte mal eine konkrete Frage zum Nachweis von Kristalldefekten.
Und zwar weiß ich, dass man mittels TEM diese nachweisen kann, aber ich weiß nicht wie, welche warum und welche genau man damit nachweisen kann.
Das Grundprinzip des TEM ist mir bekannt, ich würde mal annehmen, das man in diesem Fall das Beugungsbild verwenden würde, aber da kann ich nur mutmaßen.
Vielen Dank schon einmal für hilfreiche Antworten.

Hallo Marcello,

TEM ist bei mir schon etwas länger her. Beruflich bin ich eher der Rastermann. Aber wenn ich mich richtig erinnere, wird dafür tatsächlich das Elektronenbeugungsbild verwendet.

Hallo,
vielen Dank Rastermann für deine Antwort!
Mich hätte halt vor allem interessiert welche Defekte sich nachweisen lassen und wie. Ich könnte mir vorstellen, dass man am Beugungsbild schon erkennen kann, dass ein Defekt vorliegt.